如何查看和测试系统内置的脱敏算法
安全算法运用哈希脱敏、遮盖掩码、加解密等方式对敏感数据(如姓名、账号、手机号等)进行脱敏处理且保持数据原有格式,本文为您介绍如何查看和测试系统内置的安全算法。
配置链路追踪和云产品监控实时监测应用提升系统性能
在启动压测前,您可以通过全链路监控功能,指定本次压测需要关注的服务端应用和使用到的云产品实例,监控系统的每一个组件和服务以及它们之间的交互,提高系统的性能和稳定性。您可以在压测中和压测报告中,从全局监控大盘以及洞察服务端的性能拐点。
在ECS中通过系统负载高演练来测试服务在面对系统负载高时的表现
系统负载load是衡量系统工作量的一个指标,具体的表示为:在特定时间间隔内,系统处于可运行状态和不可中断状态的平均进程数。监控负载load是一个重要指标,可以判断当前业务的负载情况,用于及时告警并做出应对措施。
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时6
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时6 HAL Benefits When addressing obsolescence, HALs yield the benefits of lowermigration costs, faster migration time, higher code reuse, and easiermaintainabi...
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时4
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时4 DSSP Class Definition DSSP父类定义有三种不同类型的函数:仅父类、公共类和基于度量的函数。DSSP父类,DSSP.Lvclass包含所有子类函数的超集,加上父类特有的一些函数。DSSP父类的单个子实例(例如AgSigGen.lvclass)必须包含公共DSSP函数和至少一个基于度量的函...
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时5
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时5 Steps to Replace Instruments Performance Requirements The important consideration to make when replacing instruments isthat the replacements must ...
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时2
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时2 HAL最佳实践 从通用测试函数中分离测试逻辑 一个重要的最佳实践是将特定于dut的测试逻辑与更通用的、可重用的测试模块分离,以提高重用性并减少重新验证和文档成本。解耦和使层模块化可以改进系统架构,使层更容易开发和维护。例如,将特定于dut的测试限制(不可重用)与实际的限制测试实现(可重用)分...
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时3
LabVIEW如何减少下一代测试系统中的硬件过时3 Initial System Configuration As shown in Figure 4, the test application is running on an NI PXIembedded controller with Windows XP. The PXI controller is c...
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